← Back to explorer

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope

TED · 367646-2026can-standardawardedNo deadline given

Buyer

NameTechnische Universiteit Delft

CountryNL

Published2026-05-29

Deadline

Value

Estimated€610,000 · 610,000 EUR

Awarded€610,000 · 610,000 EUR

WinnerCarl Zeiss B.V. · KvK 32033579

See this firm's wins →

CPV codes

38511000 Laboratory, optical & precision equipment

Description

Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1

Source

View the official notice on TED