WAFER-CAPABLE PLASMA FOCUSED ION BEAM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (PFIB-SEM) SYSTEM

TED · 382478-2026cn-standardNo deadline given

Buyer

Name—

CountryBE

Published2026-06-04

Deadline—

Estimated—

Awarded—

38000000 Laboratory, optical & precision equipment

WAFER-CAPABLE PLASMA FOCUSED ION BEAM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (PFIB-SEM) SYSTEM

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Published	Title	Buyer	Match
2026-05-29	Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope	Technische Universiteit Delft NL	89%
2026-06-22	Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro	Universidade de Aveiro PT	88%
2026-05-18	Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro	Universidade de Aveiro PT	88%
2026-05-29	Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro	Universidade de Aveiro PT	88%
2026-05-22	11835 - Field-Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)	Technische Universiteit Delft NL	87%
2026-05-08	double corrected Transmission Electron microscope (TEM)	— BE	87%