Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)

TED · 299503-2026can-standardawardedNo deadline given

Buyer

NameCOMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES

CountryFR

Published2026-04-30

Deadline—

Value

Estimated—

Awarded€1 · 1 EUR

WinnerTESCAN France

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CPV codes

31712100 Electrical machinery & lighting

Description

La consultation comprend : - La fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB), - Des options : o Formation à la maintenance 1er niveau o Porte échantillons supplémentaires o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard) o Refroidissement des échantillons sans azote o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé o Formation à la maintenance avancée

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