Fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB)
TED · 299503-2026Award noticeawardedNo deadline given
Buyer
NameCOMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES
CountryFR
Published2026-04-30
Deadline—
CPV codes
31712100 Electrical machinery & lightingDescription
La consultation comprend : - La fourniture d’un microscope à faisceau d’ions focalisés (FIB) à plasma couplé avec une colonne de microscope électronique à balayage (MEB), - Des options : o Formation à la maintenance 1er niveau o Porte échantillons supplémentaires o Consommables (y compris les configurations d'ouverture standard) o Refroidissement des échantillons sans azote o Possibilité de filtrer les électrons secondaires du signal rétrodiffusé o Formation à la maintenance avancée
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