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Dual-Beam Feldemissions-Raterelektronenmikroskop

TED · 328678-2026can-standardawardedNo deadline given

Buyer

NameUniversität Rostock

CountryDE

Published2026-05-13

Deadline

Value

Estimated

Awarded

WinnerCarl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH

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CPV codes

38511100 Laboratory, optical & precision equipment

Description

Im Rahmen der vorliegenden Beschaffungsmaßnahme ist an der Universität Rostock am Lehrstuhl für Werkstofftechnik ein Dual-Beam Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (Dual-Beam FE-REM/Ga-FIB) zu beschaffen. Das Dual-Beam FE-REM/Ga-FIB soll für die Untersuchung von Werkstoffen und Materialien unterschiedlichster Herkunft und Zusammensetzung eingesetzt werden.

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