Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Buyer
NameInstitut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH
CountryDE
Published2026-07-17
Deadline2026-08-17
Value
Estimated—
Awarded—
Who already wins at this buyer
Firms with recorded awards from Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH in this tender’s CPV categories — the incumbents you are bidding against.
| Firm | Wins | Awarded | Last win |
|---|---|---|---|
| FEI Deutschland GmbH | 2 | — | 2026-07-10 |
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CPV codes
38000000 Laboratory, optical & precision equipmentDescription
Los1: DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) Gegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los1.25-1696.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los1.25-1696.06.Wertungsmatrix". Los2: Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Gegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los2.25-1707.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los2.25-1707.06.Wertungsmatrix".