Atomic Force Microscope (AFM)
TED · 738340-2026Award noticeNo deadline given
Buyer
NameWalther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften
CountryDE
Published2026-10-26
Deadline—
Value
Estimated—
Awarded—
CPV codes
38000000 Laboratory, optical & precision equipmentDescription
Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.
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