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Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

TED · 337507-2026cn-standardClosed 10 days ago

Buyer

NameUniversidade de Aveiro

CountryPT

Published2026-05-18

Deadline2026-06-14

Value

Estimated€600,000 · 600,000 EUR

Awarded

CPV codes

38511100 Laboratory, optical & precision equipment

Description

Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

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