Appareils de mesure pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF

CPV codes

Description

L’EPFL souhaite acquérir un système de mesure load-pull actif en dessous du térahertz (sub-THz), ainsi qu’une série d’extenseurs de fréquence adaptés aux unités de mesure VNA et VMU, pour la caractérisation de dispositifs semiconducteurs RF (3 lots). Ce système couvrira une plage de fréquences allant d’environ 75 GHz à 260 GHz pour des mesures de puissance élevée, ainsi que des extenseurs supplémentaires à faible puissance couvrant la plage de 220 GHz à 330 GHz (et au-delà), pour le POWERlab de l’Institut de génie électrique et de microtechnique (IEM). L’équipement sera dédié à la recherche de pointe sur les dispositifs de puissance en ondes millimétriques et sub-THz, ainsi que sur les circuits intégrés monolithiques hyperfréquences (MMICs). Conformément aux objectifs scientifiques du POWERlab, l’accent sera mis sur les domaines suivants: Dispositifs haute fréquence et haute puissance pour les applications de communication de prochaine génération ; Les extenseurs de fréquence seront utilisés pour caractériser des dispositifs RF dans la gamme de 75 à 260 GHz, avec des modules de forte puissance adaptés aux mesures load-pull. En complément, des extenseurs à faible puissance couvrant la gamme de 220 à 330 GHz (et au-delà) seront connectés à un système Keysight PNA.

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