Non Patterned Defectivity system (TNO38)
Buyer
NameNederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
CountryNL
Published2026-06-25
Deadline—
Who already wins at this buyer
Firms with recorded awards from Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO in this tender’s CPV categories — the incumbents you are bidding against.
| Firm | Wins | Awarded | Last win |
|---|---|---|---|
| KLA | 2 | €4,300,000 | 2026-07-21 |
| Oxford Instruments GmbH | 2 | €3,410,033 | 2026-07-20 |
| AP&S International GmbH | 1 | €4,708,875 | 2026-06-30 |
| CS CLEAN SYSTEMS (Benelux) B.V. · KvK 37091626 | 1 | €1,411,905 | 2026-06-25 |
| Raith GmbH | 1 | €1,328,060 | 2026-05-07 |
CPV codes
42000000 Industrial machinery38000000 Laboratory, optical & precision equipmentDescription
Non Patterned Defectivity system TNO heeft het voornemen om een overeenkomst te sluiten met één (1) Opdrachtnemer voor de levering van één non‑patterned defectivity‑detectiesysteem, geschikt voor het detecteren van deeltjes en andere soorten defecten op 6”-wafers in een productieomgeving
Similar tenders
Closest by meaning — across languages, via embeddings.
| Published | Title | Buyer | Match |
|---|---|---|---|
| 2026-05-21 | Metrology SEM+FIB system | Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO NL | 90% |
| 2026-07-07 | Metal/Backend Plating Au system (TNO09) | Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO NL | 90% |
| 2026-06-24 | Metal Lift-Off System (TNO44) | Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO NL | 90% |
| 2026-05-21 | X-Ray Diffraction system | Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO NL | 90% |
| 2026-05-07 | Non-contact optical profiler system | Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO NL | 90% |
| 2026-07-28 | X-ray Diffraction tool | Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO NL | 89% |