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Halbautomatisches Wafer-Testsystem für elektrische Feldpolarisation

TED · 366218-2026can-standardawardedNo deadline given

Buyer

NameFriedrich-Schiller-Universität Jena

CountryDE

Published2026-05-28

Deadline—

Value

Estimated—

Awarded€106,890 · 106,890 EUR

WinnerATV Systems GmbH

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CPV codes

38000000 Laboratory, optical & precision equipment

Description

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für den Kauf eines (1) Wafer-Testsystems, um eine elektrische Kontaktierung zu Mikroelektroden auf Waferskala für die elektrische Feldpolarisation ferroelektrischer Dünnschichten zu erreichen und damit die Herstellung integrierter polarisierter Wellenleiter auf Waferskala für die nichtlineare Frequenzumwandlung zu ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.

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Source

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