fornitura di una piattaforma integrata di microscopia correlativa comprendente sistema FIB/SEM (Focused Ion BeamScanning Electron Microscope), microscopia ottica avanzata e software unificato di gestione e analisi dati, da installarsi presso il locale 2i35 delledificio U3-BIOS dellUniversità degli Studi di Milano - Bicocca

TED · 705261-2026Voluntary ex-ante transparency noticeawardedNo deadline given

Buyer

NameArea Approvvigionamenti Beni e Servizi - Settore Gare Beni e Servizi: Ufficio Gare, Ufficio Procedure Negoziate

CountryIT

Published2026-10-13

Deadline—

Value

Estimated—

Awarded€989,990 · 989,990 EUR

WinnerCARL ZEISS S.P.A. CON SOCIO UNICO

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CPV codes

38510000 Laboratory, optical & precision equipment

Description

fornitura di una piattaforma integrata di microscopia correlativa comprendente sistema FIB/SEM (Focused Ion BeamScanning Electron Microscope), microscopia ottica avanzata e software unificato di gestione e analisi dati, da installarsi presso il locale 2i35 delledificio U3-BIOS dellUniversità degli Studi di Milano - Bicocca

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