Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro
TED · 425114-2026cn-standardCloses in 4 days · 2026-06-28
Buyer
NameUniversidade de Aveiro
CountryPT
Published2026-06-22
Deadline2026-06-28
Value
Estimated€600,000 · 600,000 EUR
Awarded—
CPV codes
38511100 Laboratory, optical & precision equipmentDescription
Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro
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