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Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

TED · 425114-2026cn-standardCloses in 4 days · 2026-06-28

Buyer

NameUniversidade de Aveiro

CountryPT

Published2026-06-22

Deadline2026-06-28

Value

Estimated€600,000 · 600,000 EUR

Awarded

CPV codes

38511100 Laboratory, optical & precision equipment

Description

Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

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